应用实例丨5G+AI算力时代,慕藤光智能成像光学系统赋能光芯片与光纤检测

fjmyhfvclm2025-06-17  5

在5G、AI算力与数据中心需求爆发的当下,️光芯片是AI服务器数据传输的核心组件,负责实现光电信号转换,以️满足AI服务器内部及集群间高速率、低延迟的数据传输需求。AI服务器对光模块的需求量显著高于传统服务器,数通市场、电信市场对算力的需求凸显高速率光芯片的重要性。与此同时,光纤作为能量和信息传输的媒介,光纤技术凭借其轻量化、高精度及多功能特性,在光通讯领域发挥着不可替代的作用。慕藤光以创新技术为行业提供高精度、智能化的解决方案,确保光芯片与光纤的精密检测与高效装配,推动光通讯领域迈向更高性能与可靠性。

️光芯片AOI检测

️检测需求

对光芯片正面、背面、前/后端面进行多面检测,检测是否有裂痕、瑕疵以及其他影响性能的外观缺陷,最高识别0.1um的瑕疵,0.1s内对焦成像

️检测原理:

通过高分辨率光学镜头捕捉光芯片表面的微观形貌,结合特定波长光源增强缺陷对比度,实时动态对焦,确保不同位置、角度的芯片表面均能清晰成像。

光芯片AOI检测需借助高分辨率自动对焦光学系统,捕捉芯片表面形貌,再结合图像处理技术自动识别缺陷,如划痕、污染、结构偏差,和尺寸误差等。该检测方式的核心在于高速、非接触式的精准检测,通过高分辨率光学镜头捕捉光芯片表面的微观形貌,结合特定波长光源增强缺陷对比度,实时动态对焦,确保不同位置、角度的芯片表面均能清晰成像。

️视觉方案:

相机:工业相机

传感器:慕藤光660nm线激光对焦传感器MALF-7V

物镜:20X物镜MA-10F

图:自动对焦光学系统

️成像效果:

图:慕藤光大视场光学系统成像解决方案-光芯片检测效果图

️光纤端面检测

️检测需求:

一次性完成多芯端面所有光纤的检测,包括自动对焦、居中、曝光和测量,单次检测速度≤5秒

️检测原理:

针对光纤端面检测设备的光学系统倍率高,镜头景深小、夹具精度不一致导致光纤端面与光轴不垂直,进一步加剧离焦、成像困难;采用慕藤光大视场对焦光学系统,通过激光测距对焦法,实现自动对焦的动态补偿、实时测量,确保所有检测样品均在获得清晰成像。

️视觉方案:

相机:大靶面工业相机

传感器:慕藤光660nm线激光对焦传感MALF-7V

镜管:大视场镜管MT-M44-S

物镜:10X物镜

图:慕藤光大视场自动对焦光学系统

️成像效果:

图:光纤端面外观检测合格VS不合格

图:多芯光纤端面外观检测合格VS不合格

产品参数

在5G与AI主导的时代浪潮下,光芯片与光纤的品质,成为决定数据传输速率与稳定性的核心要素。慕藤光凭借其自主研发的智能光学检测系统,实现了对光芯片AOI检测、光纤端面的细微缺陷的快速精准识别,有力推动了生产效率与产品可靠性的提升。随着数据传输需求的爆发式增长,慕藤光将持续深耕检测技术,深度融合AI智能分析,致力于为光通信行业提供更高效、智能的解决方案,为全球算力网络的高速、稳定运行注入强劲动力。

转载请注明原文地址:https://m.aspcms.cn/tech/1847264.html
00

热门资讯