南京国博电子申请射频微系统测试一体化BIT自检系统专利，实现电性能与功能性测试模式灵活切换

金融界2025年5月9日消息，国家知识产权局信息显示，南京国博电子股份有限公司申请一项名为“一种射频微系统测试一体化BIT自检系统”的专利，公开号CN119937363A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本发明涉及一种射频微系统测试一体化BIT自检系统，包括BIT核心模块、通信模块、继电器模块、供电模块、电平转换模块、输入/输出接口模块、BIT自检软件模块；所述BIT核心模块与所述通信模块、继电器模块、供电模块、电平转换模块以及输入/输出接口模块连接；所述输入/输出接口模块与所述继电器模块、电平转换模块连接；所述BIT自检软件模块与所述通信模块连接。优点：实现射频微系统测试系统在电性能测试、功能性测试两种测试模式之间的灵活切换，适合当前射频微系统的测试筛选的需求，具有可重构、可扩展、集成度高的特点。优化了测试系统的加电与通信方式，提高了测试的便捷性，减少直流电源的使用，降低测试系统的成本。

天眼查资料显示，南京国博电子股份有限公司，成立于2000年，位于南京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本40001万人民币。通过天眼查大数据分析，南京国博电子股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目401次，财产线索方面有商标信息5条，专利信息156条，此外企业还拥有行政许可35个。