紫光同芯申请晶圆级芯片个人化数据处理专利，降低 FT 测试成本

金融界 2025 年 4 月 23 日消息，国家知识产权局信息显示，紫光同芯微电子有限公司申请一项名为“晶圆级芯片的个人化数据处理方法及相关设备”的专利，公开号 CN119848924A，申请日期为 2024 年 12 月。

专利摘要显示，本发明公开了一种晶圆级芯片的个人化数据处理方法、装置及存储介质。该方法包括：晶圆探针测试阶段通过测试接口获取预设格式的个人化信息；芯片封装后的成品测试阶段，片内操作系统根据预设解析规则对个人化信息进行解析，得到个人化数据，预设解析规则用于对预设格式的数据进行解析；将所述个人化数据输出到目标存储区域。在 FT 测试阶段无需第三方通过 COS 写入个人化数据。避免在 FT 测试阶段通过安全监测等方式对个人化数据的安全性进行检测，降低 FT 测试成本。对于 FT 测试阶段而言，无需通过 COS 写入个人化数据，省略了个人化数据通过 COS 接口写入的步骤，因此能够减少 FT 测试时间，提高 FT 测试阶段的测试效率。

天眼查资料显示，紫光同芯微电子有限公司，成立于2001年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本100000万人民币。通过天眼查大数据分析，紫光同芯微电子有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目34次，财产线索方面有商标信息42条，专利信息832条，此外企业还拥有行政许可6个。